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                                VersaScan微區掃描電化學工作站可實現多個微區形貌測試

                                發布時間:2019-08-27瀏覽:1715次
                                VersaScan微區掃描電化學工作站是一個建立在電化學掃描探針的設計基礎上的,進行超高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區形貌及電化學微區測試系統。它是提供給電化學及材料測試以極高空間分辨率的一個測試平臺。它是一個模塊化配置的系統,可以實現如下微區掃描探針電化學技術以及激光非接觸式微區形貌測試:
                                Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) 掃描電化學顯微鏡
                                Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET) 掃描振動電極測試
                                Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微區電化學阻抗測試
                                Scanning Kelvin Probe (SKP) 掃描開爾文探針測試
                                Scanning Droplet Cell (SDC) 掃描電解液微滴測試
                                Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非觸式光學微區形貌測試 

                                VersaSCAN SECM 掃描電化學顯微鏡系統整合了定位系統、兩臺VersaSTAT恒電位儀和錐形拋光的超微電極探針為一體。SECM多樣化的技術提供了高空間分辨率,可應用于反應動力學,生物傳感器,催化劑和腐蝕機理等研究。

                                VersaSCAN SVET 掃描振動電極測量系統整合了定位系統及鎖相放大器技術(Signal Recovery Lock-in Amplifier), 壓電振動模塊, 電位計和單絲探針。 SVET技術測量溶液中的電壓降。電解液中的電壓降是由樣品表面的局部電流所導致的。 SVET提供高分辨率可應用于不均勻腐蝕,點蝕,焊接和電耦合等。此外,SVET還有生物方面的應用。

                                VersaSCAN LEIS 微區電化學阻抗測試系統整合了 定位系統和VersaSTAT 3F 及差分電壓選項, 靜電計,雙探頭探針。 LEIS技術是通過測量施加于樣品的交流電壓和由探針所測量的溶液中交流電流的比值,來計算局部阻抗,LEIS加入高的空間分辨率,可應用于有機涂層,裸露的金屬腐蝕,和所有和增加的交流技術相關的應用。

                                VersaSCAN SKP 掃描開爾文探針系統整合定位系統及鎖相放大器技術(Signal Recovery Lock-in Amplifier), 壓電振動模塊, 電位計和鎢絲探針。SKP 技術測量探針和樣品表面位置的相對功函差。這是一個非破壞的技術,可運行于環境氣氛,潮濕氣氛和無電解液情況下。相對功函已經被證實與腐蝕電位 (Ecorr)相關。SKP 提供的高空間分辨率可應用于材料,半導體,金屬腐蝕,甚至這些材料上的涂層。

                                VersaSCAN SDC 電解液微滴掃描系統整合電位系統和一臺VersaSTAT,  一個機械加工的PTFE 滴液系統頭, 以及一個蠕動泵。SDC 技術對電解液微滴進行電化學測量, 固定電極/電解液界面的面積。SDC提供高空間分辨率可應用于動力學,腐蝕,流體研究和任何研究樣品表面微小面積而無需破壞樣品的應用或者控制面積在不同電解液中的暴露時間的應用。

                                VersaSCAN OSP 非觸式光學微區形貌測試系統整合定位系統和高精度,高速度激光位移傳感器。 OSP 技術使用漫反射機理用于樣品的表面形貌。OSP可作為非常靈敏水平的機制用于表面形貌測量,或繪制地形圖與其它掃描探針技術一起應用于樣品表面定距離掃描測試。
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